说明
        该仪器用于测定单晶材料的表面缺陷，适用于科研、工业生产等一般需求。
        计算机分析系统由计算机、数据分析软件组成。单片机系统采集的实时数据传送给计算机分析系统进行数据处理，进而得到峰位角和半高宽（FWHM）值，通过电脑屏幕以表格和曲线的形式显示，并可通过打印机输出测定结果。一般样品测一次需1-2分钟（扫描范围≤2°），可测一次或者多次，重复性≤±5″。
        该仪器还是一台半自动高精度定向仪，测角精度为±15″，最小读数1″。对诸如SiO2(0003)反射能力弱的晶面，其测量精度也能达到±15″。
该仪器配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩，确保安全使用。