DX-1/2/2A型X射线单晶定向仪
DX-3/4/4A型高精度X射线单晶定向仪

DX-5/6型高精度X射线粘料定向仪

DX-5C型超高精度X射线粘料定向仪

DX-5D型高精度SC型X射线粘料定向仪

DX-7型大晶棒端面X射线定向仪

DX-7型半导体籽晶X射线定向仪
DX-7A型硅单晶片定向仪
DX-7B型单晶锭X射线定向仪

DX-7C型硅单晶锭X射线定向仪

DX-7CF型硅单晶锭X射线复检仪

DX-7CZ型硅单晶锭粘结仪

DX-8型滚磨机X射线定向仪

DX-8A型立式半导体OF面X射线定向仪
DX-8B型立式半导体OF面X射线定向仪

DX-9B型X射线单晶回摆曲线测定仪

DX-9/9A型半自动X射线单晶定向仪

DX-9C型X射线SC切型晶片定向仪

DXD-1型任意偏角晶体X射线定向仪

■ DX-9B型X射线单晶回摆曲线测定仪

■ 说 明
该仪器用于测定单晶材料的缺陷,适用于工业生产等一般需求。仪器包括测试台、高压发生器和计算机分析系统。测试台主要由铜靶X射线管(30kV,1mA),盖革计数管和嵌入式单片机系统组成,配有单色器。单片机系统采集的实时数据传送给计算机分析系统进行数据处理。
计算机分析系统由计算机、数据分析软件和打印机组成。对实时数据分析处理后得到的峰形曲线进行处理,进而得到峰位角和半高宽(FWHM)值,通过电脑屏幕以表格和曲线的形式显示,并可通过打印机输出测定结果。一般样品测一次需2-3分钟(扫描范围≤2°),可测一次或者多次,重复性≤±5″。
该仪器还是一台半自动高精度定向仪,测角精度为±15″,最小读数1″。对诸如SiO2(0003)反射能力弱的晶面,其测量精度也能达到±15″。
该仪器配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩,确保安全使用。
该仪器在结构上可根据用户需要做成台式(如上图)或其他型式。其中:
工作台外型尺寸为:1500(长)×700(宽)×750(高)。
测试台重量:75kg。
高压发生器重量:65kg。